作者:李万成 单位:重庆市自动化与仪器仪表学会;重庆工业自动化仪表研究所 出版:《自动化与仪器仪表》1999年第04期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZDYY904.0120 DOC编号:DOCZDYY904.0129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 0引言随着微处理器、大规模和超大规模集成电路的迅速发展,通信技术的广泛应用,在过程控制领域中,传统的常规仪表监控设备,很大程度上被PLC和DCS所代替,尤其是在新建、扩建和改造项目中,几乎所有的二次仪表都由PLC和DCS所取代。因此,如何充分利用PL..。

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