《近场光学显微镜中利用剪切力原理进行样品/探针间距测控的非光学方法》PDF+DOC
作者:刘秀梅,王佳,李达成
单位:中国兵工学会;北京理工大学;中国北方光电工业总公司
出版:《光学技术》1998年第05期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGXJS805.0010
DOC编号:DOCGXJS805.0019
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扫描近场光学显微镜(ScanningNear-fieldOpticalMicroscope:SNOM)自80年代中期以来获得了迅速的发展并得到了具有纳米(亚纳米)尺度分辨率的光学图像。作为SNOM的关键技术之一,样品与探针间距的控制尤为重要,而实现起来比较困难。人们提出了多种方法,其中基于剪切力原理的控制方法最常用而且实验证明是可靠的。本文综述了扫描近场光学显微镜发展以来所出现的基于剪切力原理进行样品/探针间距的探测的一些主要的非光学方法。包括利用PMT直接探测样品辐射,利用音叉、电容、阻抗以及压电效应的探没方法等,并对各种方法的优缺点进行了分析比较。
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