作者： 单位：中国电子技术标准化研究所 出版：《信息技术与标准化》2016年第07期 页数：1页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZBZ2016070350 DOC编号：DOCDZBZ2016070359 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 近日，IEC/TC47、SC47E半导体分立器件分技术委员会和SC47F MEMS分技术委员会工作组会议在成都召开。来自中国、日本、韩国、德国等国家的36位专家参加了会议。各工作组召集人介绍了各工作组的工作进展情况，对SC47E、SC47F目前正在制修订的半导体传感器、微波半导体器件、MEMS器件标准展开了讨论，主要包括IEC 62047和IEC 60747系列标准。

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