作者：李成贵,王洪祥 单位：冶金自动化研究院 出版：《工业计量》1999年第04期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGYJL904.0310 DOC编号：DOCGYJL904.0319 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 近几年随着光电子和计算机技术的发展，光电转换技术的使用越来越多。文章简单介绍了ＣＣＤ电荷耦合器件和半导体像位置检测元件ＰＳＤ的基本测量原理和一些在工业上的应用实例。

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