作者：Don Hague,俞文野 单位：中国印制电路行业协会 出版：《印制电路信息》1999年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYZDL1999040140 DOC编号：DOCYZDL1999040149 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 非接触电容传感器测试技术将取代移动探针。机械探针和短路橡胶测试技术，以满足高产量和高精度要求。

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