作者:尹维红 单位:中国仪器仪表学会试验机分会;长春试验机研究所 出版:《工程与试验》1998年第Z2期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSNSN1998Z20080 DOC编号:DOCSNSN1998Z20089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在PLG-XXX系列高频疲劳试验机的电控系统中,当功率开关放大器的功率晶体管发生损坏时,过去常引起前级的某些数字电路、线性电路、甚至面板表的损坏。究其原因,一则是由于功率放大器工作于高压大电流状态,一旦损坏,高电压将窜入低压电路;二则

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。