《S枪磁控溅射Ni薄膜晶粒结构与导电特性的研究》PDF+DOC
作者:凌明芳
单位:浙江大学
出版:《浙江大学学报(工学版)》1999年第05期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFZDZC1999050010
DOC编号:DOCZDZC1999050019
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应用薄膜晶粒边界散射的三维物理模型,分析了Ni薄膜晶粒结构对Ni薄膜电阻特性的影响,采用正交试验法得到了用S枪磁控溅射的Ni薄膜具有良好导电特性的最佳工艺条件.SEM照片表明了不同工艺条件下Ni薄膜的薄膜晶粒结构,最后给出了用S枪磁控溅射的Ni薄膜制成的温度传感器的电阻温度特性
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