《静力触探探头质量影响因素及探头使用方法的探讨》PDF+DOC
作者:于波
单位:中钢集团天津地质研究院
出版:《地质找矿论丛》1998年第04期
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZZK804.0070
DOC编号:DOCDZZK804.0079
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《静力触探探头质量影响因素的探讨》PDF+DOC1999年第06期 于波
《对静力触探探头传感器供桥电源的改进》PDF+DOC2000年第04期 王泉
《电测动力触探》PDF+DOC1985年第12期
《关于静力触探探头温度补偿的试验研究》PDF+DOC1980年第01期 郝春元
《关于双桥探头质量标准的建议》PDF+DOC1981年第01期 王家钧
《孔压静力触探(CPTU)测试成果影响因素及原始数据修正方法探讨》PDF+DOC2006年第05期 蔡国军,刘松玉,童立元,杜广印
《现代多功能孔压静力触探及在软土地区测试要点》PDF+DOC2011年第02期 田跃进,朱宜生
《静力触探测试精度问题的分析与对策》PDF+DOC2007年第02期 李雪梅
《CPT技术在环境岩土工程中的应用分析》PDF+DOC2006年第05期 曾国清
《脉冲磁场测试方法及影响因素探究》PDF+DOC2014年第01期 王锋,刘美全,范江玮
静力触探探头在使用过程中极易损坏,其原因一方面是由于探头质量问题,另一方面是由于对探头的使用方法不当。本文对静力触探探头质量的影响因素做了详细分析,并介绍了较为实用的探头使用方法
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