作者：吉国凡,薛宏,王忆文 单位：中国电子科技集团公司第四十七研究所 出版：《微处理机》1999年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFWCLJ1999030030 DOC编号：DOCWCLJ1999030039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 ：一种是片内 IDDQ测试 ；另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ，设计一个电流传感器。后者是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路 ，变 IDDQ为电压测试 ，从而达到IDDQ测试的目的

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