作者：洪汝渝 单位：中国电子科技集团第四十四研究所 出版：《半导体光电》1998年第06期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTG806.0130 DOC编号：DOCBDTG806.0139 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 提出对光电传感器使用的发光二极管进行光轴测量的必要性，并采用面积加权平均法对其进行测量。得到芯片位置变化及芯片加载电流变化对光轴位置的影响。

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